摘要:
采用熔融制样-X射线荧光光谱法测定了氢氧化铝和氧化铝中SiO_2、Fe_2O_3、Na_2O、K_2O、CaO、ZnO、TiO_2、V_2O_5、P_2O_5等9种微量和痕量杂质元素含量。样品以四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂熔融,溴化锂为脱模剂,在800℃和1000℃下分别加热3min,然后在1150℃下熔融8min,冷却后制成玻璃片测定。用氧化铝和氢氧化铝国家标准物质绘制校准曲线,在一定范围内,荧光强度与化学含量呈线性关系。当杂质含量大于0.001%时,本法测定值与标准值相符,9种杂质成分的检出限在0.000084%~0.0074%之间,不同成分测定值的相对标准偏差（n=10）在0.56%~7.2%之间。
